105年10月20日(星期四),新竹市大學路1001號交通大學電子資訊中心大樓
 

上午

國際會議廳

09:30 ~ 09:40

開幕

09:40 ~ 10:30

巨量資料分析與AOI應用整合/ 工研院IEK 熊治民經理

10:30 ~ 11:20

從SEMI標準談AOI設備安全設計要求 / SAHTECH安衛中心黃建彰副總

11:20 ~ 11:30

AOI創新獎頒獎典禮

中午

用餐,參觀38個展示攤位及16篇技術論文海報 (論文海報在位解說時段12:30~12:50)

下午

國際會議廳

第一會議室

第四會議室

13:00 ~ 13:20

Euresys新世代CoaXPress 影像擷取卡

睿怡科技 展10

機器視覺工程師專屬的圖控式檢測軟體

所羅門公司 展09

雙感測器線掃描相機

 

碁仕科技 展11

13:20 ~ 13:30

休息

休息

休息

13:30 ~ 13:50

SVS-VISTEK最新2500萬~4700萬畫素相機

睿怡科技 展10

 

 

13:50 ~ 14:00

休息

休息

休息

14:00 ~ 14:30

AOI應用實務與需求─智慧自動化

拓志光機電  梁文進副總

MOCVD半導體製程即時監控系統

中央大學機械系 李朱育教授

無懸掛車牌之車輛偵測技術

海洋大學資工系 謝君偉教授

14:30 ~ 14:40

休息

休息

休息

14:40 ~ 15:10

AOI應用實務與需求─鋼鐵業

中鋼公司 吳東穎博士

生醫光電檢測之研究與應用

成大機械系 羅裕龍教授

AOI整合機器學習之檢測應用
工研院電光所 賴岳益經理

15:10 ~ 15:20

休息

休息

休息

15:20 ~ 15:50

AOI應用實務與需求─高階扣件

 


優適達科技 林明慧執行長

極紫外線散射儀於先進製程檢測應用


工研院量測中心  顧逸霞博士

應用光纖光柵於高速內藏式主軸及工具機的動態特性、溫升以及變形之精密量測
台大機械系
 馬劍清教授

15:50 ~ 16:00

休息

休息

休息

16:00 ~ 16:30

AOI應用實務與需求─汽機車零組件

工研院機械所 蔡雅惠經理

半導體製程用溶液之奈米粒子監控方案

工研院量測中心  何信佳博士

影像關聯法於鋼鐵製程的應用

中鋼公司
 郭士綱研究員

 
國際會議廳 09:40 – 10:30
巨量資料分析與AOI應用整合 
工研院IEK 熊治民經理
對製造業而言,巨量資料應用效益包含從設計到製造的廣泛工程領域。巨量資料可協助製造業做好設備異常監控與預測、物料品質監控、零件生命週期預測、製程監控提前警報、良率保固分析等,其中設備異常監控與預測是影響製造業營運風險的關鍵因素。如能利用資料分析來管理維護設備,將可有效提升效率,而這正是巨量資料對吸引製造業投入的主要效益之一。本次IEK 熊治民經理將分享巨量資料在製造業的應用展望,進而討論AOI、巨量資料、製造端這三方將如何進行整合,以協助製造業提高即時應變決策能力。


國際會議廳 10:30 – 11:20
從SEMI標準談AOI設備安全設計要求 
SAHTECH安衛中心黃建彰副總
高科技廠的設備安全設計不僅牽涉到人員傷亡與財物損失,甚至可能嚴重影響企業與產業鏈的運作。因此多家高科技廠已將設備符合SEMI安全認證納為廠內驗收之標準,但設備供應商往往不知如何因應為符合標準所遇到的諸多問題。財團法人安全衛生技術中心(SAHTECH) 長期協助政府推動相關安全衛生與永續發展工作,及協助工業界提升技術能量與發展產業自發之安全衛生與永續指引。本次演講邀請SAHTECH 黃建彰副總分享SEMI等國際設備安全標準,並針對前述標準如何應用於AOI設備安全設計上提出建議。
 
國際會議廳 13:00 – 13:20 本場發表內容展示於 展10

Euresys新世代CoaXPress 影像擷取卡 睿怡科技
來自比利時的Euresys影像擷取卡及影像處理軟體eVision專家成立於1986年,主要銷售類比影像擷取卡(Analog)和數位影像擷取卡(CameraLink、CoaXPress)。Euresys全球已銷售超過750,000片影像卡和175,000套影像處理軟體。頂尖效能的CoaXPress影像擷取卡是目前機械視覺領域最新最高速的標準,每通道具有高傳輸資料量(Up to 6.25Gbps),最多4通道即有25Gbps頻寬。其優勢為線長可超過100米、即時觸發、低延遲的觸發能力、具靈活及可靠的線材、最多支援20個數量I/O,支援各廠牌相機及線材,易於整合,且擁有Memento事件記錄工具,讓您在長時間測試下易於檢視問題所在。

 
國際會議廳 13:30 – 13:50 本場發表內容展示於 展10

SVS-VISTEK最新2500萬~4700萬畫素相機 睿怡科技

來自德國的SVS-VISTEK成立於1987年,超過25年製造CCD和CMOS相機的經驗。豐富的經驗專注在開發中高階級的相機,是目前機器視覺高解析大Sensor工業相機的主要供應商之一。SVS-VISTEK最新發表的產品為高解度的HR系列和SHR系列 - hr25000(2500萬畫素)和shr47051 (4700萬畫素),是目前最新的高解析工業相機,其優秀的影像品質,能提供使用者更快速的應用,使用者能依據實際取像速度選擇合適的CameraLink和CoaXPress介面。
 
國際會議廳 14:00 – 14:30

AOI應用實務與需求─智慧自動化 拓志光機電 梁文進副總經理
拓志光機電為大同集團旗下工廠自動化系統整合商,長期投入自動化設備研發,開發光電、生化科技、太陽能、半導體產業的多種客製自動化設備,包含製程、收納包裝、搬送、檢測等數百台設備。拓志光機電 梁文進副總將以自家公司的智動化經驗出發,分享智慧製造的需求與建議。
 
國際會議廳 14:40 – 15:10

AOI應用實務與需求─鋼鐵業 中鋼公司 吳東穎博士
中鋼公司為目前國內最大鋼鐵公司,粗鋼年產量約1000萬公噸,主要產品為鋼板、條鋼、線材、熱軋、冷軋、電鍍鋅鋼捲、電磁鋼捲及熱浸鍍鋅鋼捲等鋼品,以及鈦基/鎳基合金。產品約67%內銷,33%外銷,國內市占率逾50%。如此龐大的出貨量,也因應產生鋼板尺寸、表面瑕疵、鑄件瑕疵、材料金像等檢測需求。中鋼公司 吳東穎博士將以使用者觀點,分享中鋼公司的光學檢測設備應用需求。
 
國際會議廳 15:20 – 15:50

AOI應用實務與需求─航太扣件 優適達科技 林明慧執行長
扣件是國內金屬製品產業中產值第二高的次產業。近年來面臨亞洲其他地區快速成長的低價競爭壓力,台灣扣件產業開始轉發展汽車、航太及3C等高品質、高附加價值產品。目前國內扣件產業的品保階段,往往僅在首件檢查和最終篩檢使用儀器,獨留製程檢測停留在傳統人工檢測方式。優適達科技為工研院輔導成立新創公司,研發團隊曾開發航太扣件之精密光學量測系統、車用螺帽之自動分檢系統,以及智能型3D扣件量測系統。優適達科技 林明慧執行長將以多年扣件檢測設備的研發經驗,分析台灣扣件產業的量測需求。
 
國際會議廳 16:00 – 16:30

AOI應用實務與需求─汽機車零組件 工研院機械所 蔡雅惠經理
近年來汽車工業零件朝向複雜3D或曲面發展,目前傳統2D檢測自動化流程已經不敷使用。工研院機械所 蔡雅惠經理將分享機器手臂結合視覺模組建構彈性生產及檢測系統之想法。並對於傳統2D視覺難以因應檢測需求之問題,提出透過結合機器手臂與視覺所建構曲面瑕疵檢測用機器人系統解決方案。將可有效因應多樣變量之彈性生產/檢測型態,應用於國內汽機車、金屬產業零組件智慧自動化生產與檢測需求。
 
第一會議室13:00 – 13:20 本場發表內容展示於 展09
機器視覺工程師專屬的圖控式檢測軟體 所羅門公司王健宇資深經理
所羅門代理的Adaptive Vision Studio是一套功能強大、使用極簡單的影像分析軟體。其特點:(1)有大於1000種過濾器(影像運算),以圖像(icon)拖曳操作完成影像分析。(2)支援GigE及GenTL相機。(3)可將多個過濾器組織成「單一大型過濾器」,形成獨有的運算工具。(4)加選Adaptive Vision Library即可將Adaptive Vision Studio直接轉成.NET與C++程式碼。(5)簡單拖曳即可建圖形使用者介面﹙HMI﹚。(6)軟體處理效能為世界頂尖。(7)常用之過濾器:圖像處理、斑點分析、輪廓分析、平面幾何、形狀擬合、相機校準、傅立葉分析、霍夫變換、條碼識別、二維條碼識別、角檢測、一維剖面分析、一維測量、二維測量、基於灰度模板匹配、基於邊緣模板匹配、直方圖分析、光學字元識別


第一會議室 14:00 – 14:30
生醫光電檢測之研究與應用 成大機械系 羅裕龍教授
羅裕龍教授為成功大學機械系特聘教授兼系主任,專攻液晶材料光學性質量測、光學精密量測、生醫光電等領域。羅教授為多篇國際期刊編委,並曾受邀至國際大型研討會擔任主席與演講者,並歷年指導學生榮獲由田、上銀、奇美、國際奈米科技研討會等產學研競賽大獎。本次羅教授將分享於生醫光電檢測之多年研究成果與應用。
 
第一會議室 14:40 – 15:10

MOCVD半導體製程即時監控系統 中央大學機械系 李朱育教授
李朱育教授專攻雷射干涉術、白光干涉術、光電技術與量測、光電信號處理等領域,指導學生在UTVMP、國際光電科技研討會、上銀、全研科技等多項競賽屢獲佳績。2015年更以「MOCVD半導體製程即時監控系統」榮獲教育部與科技部主辦的「105年度半導體光電製程設備零組件與系統設計專題競賽」研究所組第一名。本次李教授將分享「MOCVD半導體製程即時監控系統」之研究成果。
 
第一會議室 15:20 – 15:50
極紫外線散射儀於先進製程檢測應用 
工研院量測中心 顧逸霞博士
半導體製程關鍵尺寸設計逐年減小,利用傳統光學顯微鏡判讀半導體製程中層對層之間的疊對精準度已趨困難。由於層與層之間疊對是否精準,線寬尺寸誤差是否在可容許的範圍內, 都會影響積體電路的效能,所以先進的量測技術便顯得格外重要。顧逸霞博士將分享極紫外線散射儀於先進製程檢測應用,該設備藉由高次諧波極紫外線經奈米結構樣品散射之空間極強度分布資訊,比對理論模擬資料庫,得到三維結構資訊,
 
第一會議室 16:00 – 16:30
半導體製程用溶液之奈米粒子監控方案 
工研院量測中心 何信佳博士
半導體製程中需使用各種溶劑,其內之懸浮微粒大小與分佈會影響製程的品質和良率。然而現有技術無法監控前瞻製程世代,溶液中40nm以下的顆粒,形成監控的真空期。工研院量測中心 何信佳博士將分享全球獨創,並入圍美國研發大獎R&D 100的「半導體製程用溶液之奈米粒子監控方案」,以氣膠粒子量測技術應用於溶液中奈米粒子之監控,突破現有技術40 nm的偵測極限,可於線上連續監測3nm-1000nm的溶液粒子大小與濃度。
 
第四會議室13:00 – 13:20 本場發表內容展示於 展11
雙感測器線掃描相機 碁仕科技  董文剛技術行銷副理
BV-C3350雙焦線掃瞄相機在不同焦平面上找到每個表面上的灰塵或刮痕(專利申請中)。
BV-C3350呈像原理是藉由整合光束分離器和兩個具有不同焦點的線掃描傳感器,讓BV-C3350可同時在同樣的視野範圍下獲得不同焦點的兩個影像。BV-C3350可根據客戶的應用去客製化設定傳感器的位置。此功能將有助於檢查玻璃的表面與裡面的瑕疵。叧有BV-C3500寬光譜雙焦缐掃瞄相機,可同時截取可見光與近紅外線影像。
 
第四會議室 14:00 – 14:30 
無懸掛車牌之車輛偵測技術
海洋大學資工系 謝君偉教授
謝君偉教授專攻影像處理、圖形識別、多媒體與視訊處理、電腦視覺,參與「電腦視覺監控產學研聯盟」之學界科專「以視覺為基礎之智慧型環境建構計畫」。本計畫建置偵測、追蹤、辨識、重建、監控、分析等影像處理與應用技術,各項技術介紹請參見[連結],本次謝教授將分享無懸掛車牌之車輛偵測技術之研究成果。
 
第四會議室 14:40 – 15:10 

AOI整合機器學習之檢測應用 工研院電光所 賴岳益經理
自動光學檢測(Auto Optical Inspection, AOI)在缺陷檢測與尺寸量測的工業應用上,已經是個成熟旦卻是使用非常廣泛的技術了。而機器學習(Machine learning)雖然也是個已研發多年的技術,但近幾年來卻因為整體硬體的提升,又開始呈現一股方興未艾的趨勢。機器學習可以透過教導的觀念認電腦學習人類判斷的依據,對於AOI的檢測而言,是個非常適合應用的範圍。本次工研院電光所賴岳益經理將針對機器學習與AOI的整合,以深入簡出的內容簡述這兩者間的關係,並搭配實際的應用範例,讓與會來賓更能了解光學量測的未來趨勢。
 
第四會議室 15:20 – 15:50 
應用光纖光柵於高速內藏式主軸及工具機的動態特性、溫升以及變形之精密量測
 台大機械系  馬劍清教授

更新中
 
第四會議室 16:00 – 16:30 
影像關聯法於鋼鐵製程的應用 
中鋼公司  郭士綱研究員

更新中